情報化社会を支える半導体の製造システム。その中心にある半導体露光装置は、微細な回路を描画するために非常に波長の短い真空紫外レーザー(ArFレーザー、KrFレーザー)を用います。これらのレーザーは短波長であり、かつエネルギー密度が非常に高いため、石英よりもレーザー耐久性のあるCaF2が使われます。
当社では、半導体露光装置に最適な、高透過率・高耐久性のCaF2を用いたレーザー用光学材料として、エキシマレーザーグレードを販売しています。
用途:
半導体露光装置、紫外線域レーザーの窓材
※通常の紫外領域(UV領域)向けのCaF2も取り扱っておりますので、お気軽にご相談ください。
波長(nm)(真空中) | 窒素に対する屈折率 (22℃ 1013.25hPa) |
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780.237 | 1.430740 | |
706.714 | [r] | 1.431662 |
656.454 | [C] | 1.432450 |
632.990 | 1.432877 | |
587.725 | [d] | 1.433838 |
546.227 | [e] | 1.434926 |
468.269 | [F] | 1.437006 |
435.957 | [g] | 1.439460 |
404.770 | [h] | 1.441479 |
365.119 | [i] | 1.444880 |
334.224 | 1.448480 | |
289.444 | 1.456169 | |
253.728 | 1.465981 | |
228.872 | 1.476360 | |
214.506 | 1.484561 | |
206.266 | 1.490317 | |
194.227 | 1.500597 | |
184.950 | 1.510557 |
測定精度
780.237nm~365.119nm ±1×10-6
334.244nm~206.266nm ±3×10-6
194.227nm、184.950nm ±5×10-6
ArFエキシマレーザーを照射しても透過率がほとんど変化しません。
照射条件
30mJ/cm2 13ns(FWHM)
2×105 shots
n2-1=A1λ2/(λ2-B1)+A2λ2/(λ2-B2)+A3λ2/(λ2-B3)
22℃、1013.25hPa、窒素中